研究表明，已知介質(zhì)1、3的縱波聲速及密度，假設(shè)層2的縱波聲速及衰減系數(shù) 為常數(shù)，則取值不同，相位譜形狀及其極值的變化規(guī)律也不同。設(shè)對應(yīng)相位譜形狀變化存在的兩個(gè)臨界密度值為 和（ < ），如圖7-20所示。設(shè)一、三階諧振頻率分別為 ，相位極值對應(yīng)的頻率與諧振頻率之間存在的差值為 :

1）當(dāng)< 時(shí)，對應(yīng)的相位極值均由極小值向極大值變化。

2）當(dāng) < < 時(shí)， 對應(yīng)的相位極值由極小值向極大值變化，而 對應(yīng)情況則由極大值向極小值變化。

3）當(dāng)＞ 時(shí)，相位極值均由極大值向極小值變化。此外，隨著 值的增加，聲壓反射系數(shù)相位譜極值的絕對值呈單調(diào)遞減變化。

采用電子束物理氣相沉積技術(shù)( Electron Beam Physical Vapor Deposition，EBPVD)制備ZrO₂-7%Y₂O₃( YZS)涂層，借助TEMP—6型強(qiáng)流脈沖離子束(High-Intensity Pulsed lon Beam, HIPIB)裝置對部分涂層試樣進(jìn)行1次和5次輻照，離子束參數(shù)為：加速電壓300kV，脈沖寬度70~80ns,束流密度300A/cm²。對原始YSZ涂層及HIPIB輻照1次和5次的涂層分別進(jìn)行超聲波實(shí)驗(yàn)測試，得到了聲壓反射系數(shù)相位譜(見圖7-21)。觀察發(fā)現(xiàn)，三種涂層的密度均滿足＞ 的情況。對于原始涂層及輻照1次、5次YSZ涂層， 對應(yīng)的相位譜極值的絕對值依次減小，表明涂層致密程度逐漸增大。超聲波表征結(jié)果與涂層表面及橫截面的SEM結(jié)果相符(見圖7-22、圖7-23)。